低温电子显微技术（英语：Cryogenic electron microscopy，缩写：cryo-EM），是穿透式电子显微镜（TEM）的其中样品在超低温（通常是液氮温度-196℃）下进行型态研究的一种技术。此种仪器一般称为低温电子显微镜（简称：低温电镜）或冷冻电子显微镜（简称：冷冻电镜）。各种技术可应用于低温电子显微镜，包括：